来源:admin 浏览量: 发布时间:2024-03-01 15:47:31
图1 图文摘要
图2 OXnZVI的结构分析
图3 nZVI与OXnZVI深度除磷性能的对比
图4 In situ OCP-ATR-FTIR方法表征nZVI与OXnZVI深度除磷的界面反应行为
接着,本研究采用原位衰减全反射傅里叶变换红外光谱-开路电位联用(OCP-ATR-FTIR)监测未修饰纳米零价铁 nZVI 去除磷酸根的过程(图4),可同时得到在线监测的开路电位和红外光谱信号。为了探究吸附反应机理于不同阶段的变化,我们还分析了 IR 峰吸收度随时间的变化(图4c, f)。结合理论与实验,我们发现磷酸根吸附于 nZVI 上时, ≡Fe(II)配位主导第一阶段,外球配位主要第二阶段, ≡Fe(III)OX 配位则主导第三阶段。而磷酸根吸附于 OXnZVI 上时, ≡Fe(III)配位主导第一阶段,继而由≡Fe(II)配位主导第二阶段,最后由 OX 配位主导第三阶段。
图5 nZVI与OXnZVI深度除磷时不同阶段结合构型的吸附能与差分电荷结果
两种纳米零价铁的表面铁与磷酸根配位时,都会提供电荷给磷酸根。在PCET 过程中,伴随着磷酸根捕获表面质子,内部的电荷也会给向磷酸根和草酸根,最终形成三元环状络合物。相反,外球配位时的负电荷积累效应和 OX 配位时的 OX 吸电荷作用均会得到磷酸根的电荷。这些电荷现象与前文 OCP 的实验结论一致。
图6 (a-b) 宏观吸附实验,(c-d) XPS表征与 (e-f) TOF-SIMS表征与 (g) 三元络合物构型
接着,本研究采用宏观吸附实验与XPS表征实验验证了不同吸附位点的贡献及变化,验证了上述反应阶段。同时,我们采用飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)仪检测吸附了磷酸根的 OXnZVI 样品(OXnZVI-P(V))。检测到的 PO3-与 FeO2−碎片属于 OXnZVI 的≡Fe(III)OX位点上形成的 Fe-OX-P(V)-Fe 三元环状络合物碎片,证明了该三元环状络合物的存在。
研究成果以“Oxalate Modification EnabledAdvanced Phosphate Removal of nZVI: In Situ FormedSurface Ternary Complex andAltered Multi-Stage Adsorption Process”为题发表于知名学术期刊《Journal of Environmental Sciences》(https://doi.org/10.1016/j.jes.2024.02.013)。上海交通大学张礼知教授与华中师范大学高婷娟教授为通讯作者,华中师范大学曹诗玉(现为中国科学院武汉岩土所博士后)为第一作者。研究得到了国家重点研发计划(No. 2022YFA1205602)等项目资助。
转自: https://mp.weixin.qq.com/s/U3Zf9in6i0zWUjt9tkNb-g